Atlas de Patrones de Difracción de Electrones

El profesor Jean-Paul Morniroli (Jean-Paul.Morniroli@univ-lille1.fr) del laboratorio de metalurgia física en ingeniería de materiales, UMR CNRS 8517 USTL & ENSCL, Cité Scientifique, Villeneuve d'Ascq, Francia, ha hecho un Atlas de Patrones de Difracción de Electrones, el cual está disponible para su descarga en el sitio web: http://www.electron-diffraction.fr/welcome_017.htm. Nota: El patrón de difracción teórico fue simulado con los programas: “difracción de electrones” y “jems” de P. Stadelmann.

También incluyen las siguientes lecturas disponibles para su descarga en formato PDF:

1. Precesión por difracción de electrones. Seminario celebrado en el Instituto de Materiales, Universidad de Silesia, Katowice, Polonia, junio 2011.

2. Determinación de grupos espaciales de PED y CBED. Ceremonia de inauguración, Nanogune, San Sebastián, España, julio 2011.

3. PED, CBED y LACBED. Diferencias y similitudes. Escuela de Cristalografía Electrónica, Erice, Sicilia, junio 2011

documentos del Laboratorio de Microscopia Electrónica del Instituto de Ciencias de los Materiales

El Laboratorio de Microscopia Electrónica del Instituto de Ciencias de los Materiales de la Universidad de Connecticut, disponible en línea (http://www.ims.uconn.edu/~micro/) cuenta con un conjunto de documentos en formato PDF que incluye:

1. Transmission Electron Microscope. Primary User Training. Documento de entrenamiento en MET bastante accesible y bien ilustrado.  Muy útil para aquellos que empiezan a adentrarse en el mundo de la microscopía electrónica y mucho más:

Lección 1. Introducción al MET

- ¿Porque usar electrones?
- La columna del Microscopio Electrónico
- Óptica Electrónica

Lección 2. Principios de formación de imágenes
Lección 3. Difracción electrónica básica
Lección 4. Difracción electrónica avanzada
Lección 5. Espectroscopia por energía dispersiva de rayos X
Lección 6. Métodos para obtención de imágenes avanzado
Lección 7. Repaso

2. TEM Sample Preparation for beginners. Breve guía sobre la preparación de muestras para MET.
     
3. Scanning Electron Microscope. Primary User Training. Documento de entrenamiento en microscopía electrónica de barrido (MEB) muy accesible e ilustrativo. Muy útil para aquellos que están empezando en el mundo de la microscopía electrónica y mucho más, en el se incluyen:

a) ¿Por qué usar electrones en un microscopio?

b) Columna del MEB

c) Principios de formación de imágenes en MEB

d) Análisis elemental

4. Este sitio también incluye las siguientes guías de operación para el usuario:
   

- Guía del usuario MET FEI T12
- Guía del usuario MET JEOL 2010
- Guía del usuario MEB JEOL 633
- Gatan Dual Ion Mill
- Gatan PIPS Ion Mill

Tabla periódica

 

Muy buen sitio web (http://www.webelements.com/ ) dedicado a proporcionar una descripción y datos esenciales de la tabla periódica, incluyendo los siguientes aspectos:

Lo esencial, Historia, Contenido, Usos, Geología, Biología, Compuestos, Electronegatividad, Entalpia de enlace, Redes de energía, Física, Imágenes, Alotrópicas, Química, Estructuras cristalinas, Termoquímica, Átomos, Tamaño de átomos y iones, Isótopos y NMR

 

Propiedades orbitales

Datos de referencia Física NIST (http://www.nist.gov/pml/data/index.cfm ) los cuales incluyen las siguientes bases de datos:

1.- Índice de datos de elementos
2.- Tabla periódica: Propiedades atómicas de los elementos
3.- Datos de espectroscopia atómica
4.- Datos de espectroscopia molecular
5.- Datos atómicos y moleculares
6.- Datos de Rayos X y Rayos Gamma
7.- Datos de dosimetría de radiaciones
8.- Datos de física nuclear
9.- Datos de física de materia condensada
10.- Otros

Base de datos EELS

Esta página web de la base de datos EELS (http://pc-web.cemes.fr/eelsdb/index.php?page=home.php ) incluye una compilación de espectros de excitación externos e internos obtenidos por espectroscopia por pérdida de energía de electrones y experimentos de rayos X para formar un Catálogo de referencia de estructuras finas para materiales. Aunque gratuito, hay que registrase antes de usarlo.

Atlas de Microscopía Electrónica y óptica

En esta página web se presenta un Atlas de Microscopía Electrónica y óptica por M. Dürrenberger, U. Aebi and A. Engelde de la Universidad de Basel, Klingelbergstrasse 70, CH-4056 Basel, Suiza. También incluye una colección de imágenes obtenidas por microscopía de fuerza atómica y tunelamiento, la cual se encuentra en la siguiente liga: http://pages.unibas.ch/SEM/ATLAS/htm/index2.htm

Información diversa sobre microscopía electrónica

Sitio web en México que incluye una considerable información sobre fenómenos de dispersión, técnicas de vacío, bombas, lentes para microscopía electrónica, generación e interpretación de señales, una interesante discusión sobre contraste y brillantez, distribución de energía, profundidad de campo, efectos de carga, mezcla de señales, rayos-X; incluye también una descripción sobre la señal de los electrones Auger y su uso. Laboratorio de Microscopía Electrónica, Universidad Autónoma Metropolitana. Unidad Izatapalpa. http://microscopiaelectronicauami.com/equipos/ .

Información gráfica de técnicas de microscopía electrónica

Información gráfica de diferentes técnicas de microscopía electrónica y preparación de muestras. Introduction a la microscopía electrónica. Interdisciplinary Centre for Electron Microscopy CIME, École Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL). Encontrado en la siguiente dirección: http://cime.epfl.ch/introduction-to-em

Técnicas de SEM: http://cime.epfl.ch/page-26771.html

Técnicas de TEM: http://cime.epfl.ch/page-26780.html

Técnicas de FIB: http://cime.epfl.ch/page-26794.html

Preparación de muestras: http://cime.epfl.ch/page-26798.html

Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy

Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy [Springer 2010], libro en línea desarrollado por Jeanne Ayache, Luc Beaunier, Jacqueline Boumendil, Gabrielle Ehret, Danièle Laub. Idioma: Inglés. Consultado en la siguiente dirección:
http://es.scribd.com/doc/49552803/Sample-Preparation-Handbook-for-Transmission-Electron-Microscopy-Springer-2010.

Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis.

Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. [Springer 2009], libro disponible en línea desarrollado por [Springer 2010] Patrick Echlin. Idioma: Inglés.
http://www.springerlink.com/content/978-0-387-85730-5#section=881929&page=1&locus=0

Interfaz interactiva de microscopía electrónica de transmisión

Sitio Web del Institut Cancerologie Gustave-Roussy, Francia, con una interfaz interactiva que incluye amplias guías metodológicas, técnicas, notas, glosarios de microscopía electrónica de transmisión, librería de micrografías, noticias, colaboradores y otras ligas. Idioma: Francés e inglés. http://temsamprep.in2p3.fr/accueil.php?lang=fr

Manuales de uso de microscopios de fuerza atómica en línea

Manuales de uso de microscopios de fuerza atómica en línea. Incluye además material de apoyo en forma de presentaciones Power Point de nanociencias y nanotecnología. The Colvin group. Rice University. Datos de contacto para informacion general del Laboratorio: Tel. 713-348-3489, Fax 713-348-2578. 33 Dell Butcher Hall. Texas. US. Idioma: Inglés. Encontrado en la siguiente dirección: http://nanonet.rice.edu/tutorials.html

 

 

Monografías sobre microscopía electrónica de barrido y transmisión

Monografías sobre microscopía electrónica de barrido y transmisión con ilustraciones, que se encuentran en la página web del Electron Microbeam Analysis Laboratory (EMAL), University of Michigan, entre ellas se encuentran:

1. MEB. En este material se incluyen operación básica, electrones secundarios, retrodispersados, formación de imagen en MEB y una discusión sobre el tamaño de haz en la emisión. Material desarrollado por John Mansfield.

2. ESEM. Introduccion, esquema funcional de un ESEM, formación de imagen en bajo vacío,  neutralización de cargas y amplificación de la señal en ESEM con un detector de electrones secundarios en ambientes gaseosos, modos de contraste, rangos de trabajo con muestras húmedas.

3. MET. Introducción, ejemplos de instrumentos, formación de imágenes, técnicas de difracción área selecta, análisis de defectos, patrón de difracción, campo claro, campo obscuro, EELS, otras técnicas. Material desarrollado por John Mansfield. Preparación de especímenes para ciencias físicas.

4. Discusión del tema de formación de patrones por difracción de haz convergente.

5. Documentos del tipo “Todo lo que usted quiso saber acerca de microscopía electrónica y nunca se atrevió a preguntar” de FEI, “Optica de MET/SEM en el 2010F FasTEM” de Jeol, “Mitos sobre emisión” de Lee Instruments y otros documentos. Idioma: Inglés. Encontrado en la siguiente dirección:

   http://emalwww.engin.umich.edu/education_materials/microscopy.html

Resumen histórico de microscopía electrónica

Resumen histórico de microscopía electrónica. Descripción gráfica del sistema de escaneo. Escalas. Descripción de las diferentes señales y ejemplos con imágenes. ZMB Zentrum für Mikroskopie. Universität Basel Biozentrum/Pharmazentrum Klingelbergstrasse 50/70, CH-4056 Basel, Suiza. Idioma:Dutch. http://pages.unibas.ch/SEM/index.html

Cámaras en tiempo real

Cámaras en distintos puntos de Electron Microscopy Laboratory en Argon National Laboratories in Argon USA. http://tpm.amc.anl.gov/

Descripción ilustrada de temas de microscopía óptica

Sitio web de la Universidad de California en Fullerton con una descripción ilustrada de temas de microscopía óptica, entre ellos se incluyen: una introducción, microscopía de campo claro, iluminación Kholer, inmersión en aceite, microscopía de contraste de fase, microscopía de fluorescencia, microscopía de contraste de interferencia y foto-microscopía. http://biology.fullerton.edu/facilities/em/LightMicroscopy.html

Librería virtual

Página de WWW-Virtual Library que contiene una enorme cantidad de información relacionada con microscopía electrónica, microscopía de luz y otros tipos de microscopía. Se necesitan unas vacaciones para explorarla.
http://www.ou.edu/research/electron/www-vl/