Con las técnicas de Microscopía de Fuerza Atómica y Microscopía de Tunelamiento, se analiza la superficie de las muestras sensando la fuerza existente entre una punta muy fina y los átomos superficiales de la muestra. La MT analiza la corriente generada por efecto túnel, al igual que la MFA, entre punta y átomos de la superficie de la muestra.
La importancia de la caracterización radica en su alta resolución espacial, además de su capacidad de medición de relieves topográficos, dominios magnéticos, etc., pudiendo potencialmente obtener detalles en el nivel atómico (MT) en una amplia gama de muestras. El MFA además presenta una peculiaridad única, al tener la capacidad de manipular átomos y moléculas, modificando local y controladamente la superficie de la muestra para diseño de materiales.
 Servicios disponibles
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Morfología por MFA y MT |
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- Imágenes de superficie (2D).
- Imágenes en relieve (3D)
- Imágenes de fuerza magnética
- Imágenes de resolución atómica
- Determinación de rugosidad superficial
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Tamaño de partícula por MFA y MT |
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- Distribución del tamaño de nanopartícula
- Distribución de tamaño de poro
- Determinación de profundidad de poro
- Distribución de relieves superficiales
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Estudios "in situ" |
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- Indentación (determinación de dureza).
- Rayado (resistencia al desgaste).
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Equipos |
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Multimode 1: |
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- Scanner: 5840 EV.
- Modelo: MMAFM-2.
- Longitud de de escaneo máximo de 15.7 micrones.
- Modos de trabajo: Tapping y Contacto.
- Imágenes: Topografía y fase.
- Técnicas: Fast Scan, litografía, fuerza eléctrica, fuerza
magnética, fuerza lateral, nanoidentación.
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Multimode 2: |
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- Scanner: 5840 EV
- Modelo: MMAFM-2
- Longitud de escaneo máximo de 15.7 micrones.
- Modos de trabajo: Tapping y Contact.
- Imágenes: Topografía y fase.
- Técnicas: Propiedades electroquímicas.
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Tunelamiento: |
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- Scanner: 1376 DI
- Modelo: ECM-NS3
- Longitud de escaneo máximo de 11.8 micrones.
- Valor máximo de Z: 3.01 micras
- Modos de trabajo: Tapping y Contacto.
- Imágenes: Topografía y corriente.
- Técnicas: Propiedades electroquímicas.
- Dimensiones de las muestras: 1 cm por 1 cm y un espesor
máximo de 2 mm.
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- Dimension 3100
- Escáner: 257CL
- Modeo: DAFMCL
- Longitud de de escaneo máximo de 120 micrones.
- Modos de trabajo: Tapping (intermitente) y Contacto.
- Imágenes: Topografía y fase.
- Técnicas: Potencial de superficie, fuerza lateral, fuerza eléctrica y
magnética, modulación de fuerza, Tuna y nanolitografía.
- Dimensiones de las muestras: Diámetro máximo de 15 cm y
1.0 cm de espesor.
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