La relevancia de la caracterización por Microscopía Electrónica de Transmisión (MET) radica en su capacidad de determinar la morfología, tamaño y estructura cristalina de materiales en los niveles micrométrico, nanométrico y atómico (hasta 0.85 Å), para posteriormente correlacionarla con sus propiedades fisicoquímicas, ópticas, magnéticas y electrónicas en el nivel macroscópico.
Con MET puede realizarse análisis químico en diferentes niveles y obtener la distribución de la composición química en la muestra desde un nivel micro hasta nanométrico. Adicionalmente contamos con capacidad para hacer tomografía y obtener imágenes tridimensionales en los niveles micrométrico y nanométrico.
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Servicios disponibles |
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Métodos |
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- Morfología por MET: Imágenes de campo claro y
campo oscuro.
- Imágenes de alta resolución ( HRTEM).
- Difracción de área selecta.
- Obtención de Imágenes de ultra alta resolución con corrección
de aberración esférica.
- Difracción de haz convergente.
- Análisis elemental por espectroscopía por pérdida de
energía de los electrones EELS.
- Análisis químico elemental cualitativo (puntual y global), EDS.
- Mapeo químico por filtrado de energía (EFTEM).
- Obtención de imágenes en STEM- HAADF (Contraste Z).
- Mapeo químico por STEM-EDS.
- Tomografía (imágenes tridimensionales).
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Microscopio Electrónico de Transmisión Tecnai G2 T20: |
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- Voltaje de aceleración: 200 kV
- Filamento: LaB6
- Resolución punto a punto: 0.24 nm.
- Límite de información: 0.14 nm.
- Resolución en STEM: 0.34 nm.
- Coeficiente de aberración esférica: 1.2 mm.
- Coeficiente de aberración cromática: 1.2 mm
- Modos de trabajo:TEM, STEM.
- Técnicas de análisis: EDS.
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Microscopio Electrónico de Transmisión Tecnai G2 F30
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- Voltaje de aceleración: 300 kV.
- Filamento de emisión de campo tipo Schottky.
- Resolución punto a punto: 0.20 nm.
- Límite de información: < 0.14 nm.
- Resolución en STEM: 0.17 nm.
- Coeficiente de aberración esférica: 1.2 mm.
- Coeficiente de aberración cromática: 1.4 mm.
- Modos de trabajo: TEM, EFTEM, Lorentz STEM,
Tomografía.
- Detector HAADF STEM.
- Técnicas de análisis: EDS/ EELS (Filtro GATAN).
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Microscopio Electrónico de Transmisión JEM-2200FS
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- Voltaje de aceleración: 200 kV.
- Filamento de emisión de campo tipo Schottky.
- Resolución punto a punto: 0.19 nm.
- Límite de información: < 0.10 nm.
- Corrector de Aberración esférica (Cs) CEOS.
- Resolución en STEM: 0.1 nm.
- Coeficiente de aberración esférica: 0.5 mm.
- Coeficiente de aberración cromática: 1.1 mm.
- Modos de trabajo: TEM, EFTEM, Lorentz STEM.
- Detector HAADF STEM.
- Técnicas de análisis: EDS/ EELS (Filtro Omega en columna), Resolución de energía; 0.8 eV.
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Microscopio Electrónico de Transmisión subAngstrom TITAN
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- Voltaje de aceleración: 300 kV.
- Filamento de emisión de campo.
- Resolución punto a punto: 0.085 nm.
- Resolución en STEM: 0.17 nm.
- Modos de trabajo: TEM, EFTEM, Lorentz STEM, Tomografia.
- Corrector de Aberración Esférica.
- Detector HAADF STEM.
- Técnicas de análisis: EDS/ EELS (Filtro GATAN).
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