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Área de Microscopía Electrónica de Transmisión (MET)

La relevancia de la caracterización por Microscopía Electrónica de Transmisión (MET) radica en su capacidad de determinar la morfología, tamaño y estructura cristalina de materiales en los niveles micrométrico, nanométrico y atómico (hasta 0.85 Å), para posteriormente correlacionarla con sus propiedades fisicoquímicas, ópticas, magnéticas y electrónicas en el nivel macroscópico.

Con MET puede realizarse análisis químico en diferentes niveles y obtener la distribución de la composición química en la muestra desde  un nivel micro  hasta nanométrico. Adicionalmente contamos con capacidad para hacer tomografía y obtener imágenes tridimensionales en los niveles micrométrico y nanométrico.

 

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Servicios disponibles

 

  Métodos  
     
 
  • Morfología por MET: Imágenes de campo claro y
        campo oscuro.
  • Imágenes de alta resolución ( HRTEM).
  • Difracción de área selecta.
  • Obtención de Imágenes de ultra alta resolución con corrección
        de aberración esférica.
  • Difracción de haz convergente.
  • Análisis elemental por espectroscopía por pérdida de
        energía de los electrones EELS.
  • Análisis químico elemental cualitativo (puntual y global), EDS.
  • Mapeo químico por filtrado de energía (EFTEM).
  • Obtención de imágenes en  STEM- HAADF  (Contraste Z).
  • Mapeo químico por STEM-EDS.
  • Tomografía (imágenes tridimensionales).

 

 

Nano particula de Niquel dentro de un nanotubo de carbono

 

Equipos  

Microscopio Electrónico de Transmisión Tecnai G2 T20:

 
 
  • Voltaje de aceleración: 200 kV
  • Filamento: LaB6
  • Resolución punto a punto: 0.24 nm.
  • Límite de información: 0.14 nm.
  • Resolución en STEM: 0.34 nm.
  • Coeficiente de aberración esférica: 1.2 mm.
  • Coeficiente de aberración cromática: 1.2 mm
  • Modos de trabajo:TEM, STEM.
  • Técnicas de análisis: EDS.
 

 

Microscopio Electrónico de Transmisión Tecnai G2 F30

 
  • Voltaje de aceleración: 300 kV.
  • Filamento de emisión de campo tipo Schottky.
  • Resolución punto a punto: 0.20 nm.
  • Límite de información: < 0.14 nm.
  • Resolución en STEM: 0.17 nm.
  • Coeficiente de aberración esférica: 1.2 mm.
  • Coeficiente de aberración cromática: 1.4 mm.
  • Modos de trabajo: TEM, EFTEM, Lorentz STEM, Tomografía.
  • Detector HAADF STEM.
  • Técnicas de análisis:  EDS/ EELS (Filtro GATAN).
 

 

Imagen de un material mesoporoso (MCM-41), donde se observan diferentes orientaciones de dicho material.

Microscopio Electrónico de Transmisión JEM-2200FS

 
  • Voltaje de aceleración: 200 kV.
  • Filamento de emisión de campo tipo Schottky.
  • Resolución punto a punto: 0.19 nm.
  • Límite de información: < 0.10 nm.
  • Corrector de Aberración esférica (Cs) CEOS.
  • Resolución en STEM: 0.1 nm.
  • Coeficiente de aberración esférica: 0.5 mm.
  • Coeficiente de aberración cromática: 1.1 mm.
  • Modos de trabajo: TEM, EFTEM, Lorentz STEM.
  • Detector HAADF STEM.
  • Técnicas de análisis: EDS/ EELS (Filtro Omega en columna), Resolución de energía; 0.8 eV.
 

 

Partículas metálicas (Ag) sobre una película de carbón amorfo. Imagen obtenida por HAADF-STEM (contraste Z).

Microscopio Electrónico de Transmisión subAngstrom TITAN

 
  • Voltaje de aceleración: 300 kV.
  • Filamento de emisión de campo.
  • Resolución punto a punto: 0.085 nm.
  • Resolución en STEM: 0.17 nm.
  • Modos de trabajo: TEM, EFTEM, Lorentz STEM, Tomografia.
  • Corrector de Aberración Esférica.
  • Detector HAADF STEM.
  • Técnicas de análisis: EDS/ EELS (Filtro GATAN).
 

 

Partículas metálicas (Ag) sobre una película de carbón amorfo. Imagen obtenida por HAADF-STEM (contraste Z)

    Laboratorio de Microscopía Electrónica de Ultra alta Resolución. Área de preparación y caracterización por microscopia de doble haz. (APCMDH) Área de Microscopía Electrónica de Barrido (AMEB). Área de Microscopía Electrónica de Transmisión (AMET). Área de Microscopía de Fuerza Atómica y Tunelamiento (AMFAyT). Área de Manipulación Remota y Simulación (AMRyS).    
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Última modificación:

Lunes, 30 Junio, 2014 13:09 por la GTIC con información proporcionada por el Laboratorio de Microscopía Electrónica de Ultra Alta Resolución
 

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