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Área de Microscopia Electrónica de Barrido (MEB)

La importancia de la caracterización por Microscopia Electrónica de Barrido (MEB) radica en su capacidad para analizar las características superficiales de diversos materiales (inorgánicos, orgánicos y biológicos) en los niveles micro y nanométrico, con el fin de correlacionarlas con las propiedades de la muestra. De manera simultánea puede realizarse el análisis químico de las muestras en estudio para obtener información de la naturaleza y composición de los materiales.

Este tipo de estudios pueden ser de utilidad en temas tan diversos como catálisis, corrosión, biotecnología, perforación, etcétera.

 

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Servicios disponibles

 
Métodos
 
  Morfología por MEB
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Imágenes por electrones secundarios

 
  • Diferencias morfológicas.
  • Imágenes de alta resolución
- Imágenes por electrones retrodispersados
 
  • Identificación de fases
  • Dispersión de partículas
- Espectroscopia de dispersión de rayos X característicos (EDS)
 
  • Análisis químico elemental
  • Mapeo de elementos químicos
  • Perfil de elementos
 
Equipos
 
Microscopio Electrónico de Barrido Ambiental XL30 ESEM.  
 
  • Filamento de tungsteno
     
  • Presión de trabajo:
        • alto vacío 10-5 torr
        • bajo vacío 0.1-1 torr
        • modo ambiental 1- 4 torr
           
  • Resolución en alto vacío, bajo vacío y modo ambiental: 3.5nm.
     
  • Formación de Imágenes por Electrones secundarios y/o
        retrodispersados.
     
  • Análisis químico elemental por EDS
     
 
Imagen en Microscopio Electrónico de Barrido de bacterias en ductos.
Microscopio Electrónico de Barrido 35CF:
  • Filamento de tungsteno
  • Presión de trabajo
    • Alto vacío 10-5 torr
  • Resolución: 3.5nm
  • Formación de Imágenes por Electrones secundarios
        y/o retrodispersados
  • Análisis químico elemental por EDS.
    
    Laboratorio de Microscopía Electrónica de Ultra alta Resolución. Área de preparación y caracterización por microscopia de doble haz. (APCMDH) Área de Microscopía Electrónica de Barrido (AMEB). Área de Microscopía Electrónica de Transmisión (AMET). Área de Microscopía Electrónica de Transmisión (AMET). Área de Manipulación Remota y Simulación (AMRyS).    

 

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Fecha de publicación:
Viernes, 09 Septiembre, 2011 19:11 por TI,
con información proporcionada por el Laboratorio de Microscopía Electrónica de Ultra Alta Resolución
 

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